儀器英文名稱：Four-Point Probes Resistance Meter

廠牌／型號：凱思隆科技股份有限公司/LRS4-T

購置時間：102年6月

放置地點：IB-603

儀器介紹／用途：四點探針法是測量薄膜電阻最常用的一種方法，利用外側兩探針間加固定電流，並同時量測另外兩個內探針間之相對電壓計算其電性。使用者可以經由輸入試片大小，量測待測物的電阻值(resistance)、片電阻率(sheet resistance)、體電阻率(volume resistance)、電導率(conductivity)。

儀器負責人：黃炳照 教授

設備照片：